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第1542章 改变行业的成果(2/2)

“没错!”

“必须拿下!”

赞同声此起彼伏。

然而,就在众人摩拳擦掌,准备大干一场时,一直安静坐在马哈奇旁边的索菲亚·皮尔兹冷冷地开口,如同一盆冰水浇在刚刚燃起的火焰上: “恐怕,实际情况会让诸位非常失望。”

热烈的讨论声戛然而止。

所有人都困惑地看向她。

“失望?

为什么?”

那位兴奋的主管不解地问,“算法是公开的学术成果,我们应用它开发产品,最多专门标注一下对方所做的贡献,这有什么问题?”

皮尔兹没有直接回答,而是操作电脑,将投影切换到了一个新的画面。

屏幕上清晰地展示出三份电子文档的首页,上面印着醒目的华夏专利局标志和专利申请号。

“就在JCAS那篇论文网络发表的前一天,”

皮尔兹的声音清晰而冷静,“一批相关专利,已经通过了实质审查阶段,进入授权公告前的最后程序……其中包括最核心的三项”

她用激光笔依次点着三份文件: “第一,一种TEM/APT通用样品制备方法。

核心是利用特定参数的FIB刻蚀和原位微纳操纵探针,在TEM观测的薄膜目标区域‘雕刻’出符合APT分析要求的纳米针尖。”

“第二,一种统一穿透测试视场的采样纳米针尖结构设计。

这种特殊几何形状的针尖,确保TEM观测的视场区域与后续APT进行场蒸发的针尖顶端区域,在空间上高度重合或可精确对应。”

“第三,一种透射电子显微镜下的四自由度纳米操纵平台及其定位方法。

集成了激光定位和图像识别算法,确保TEM观察后,能高精度、原位地将同一微区的样品针尖送入APT分析位置……”

“……”
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